HIOKI IM3570阻抗测试仪
测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量
HIOKI 阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
- 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
- LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
- 基本精度±0.08%的高精度测量
- 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
- 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
- 可以用于无线充电评价系统TS2400
- 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
最适用于生产线的阻抗分析仪
阻抗测试仪IM3570的优势
阻抗测试仪IM3570的特点
低电容(高阻抗)测量，提高稳定性
和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精 度提高了一位。 例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻抗)测量时的D测量的稳定性。
广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。
广范围的测量电压/电流
除了可以设定一般的开环信号，还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号，从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。
内部可发生DC偏置电压
只需主机即可施加最大2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。
长时间稳定性的提高
保证1年的测量精度。与以往产品每6个月需要校准相比，校准周期延长至1年
