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电磁干扰去耦夹 EMID 1M

EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。
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产品详情

EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。也可用于1 MHz以上干扰信号的衰减,衰减系数大于10 dB(与信号频率有关)。本产品采用卡扣式结构,可以直接套在待去耦的线缆上,使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

 

 

附图:EMID 1M电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图

技术参数

电快速瞬变脉冲群衰减系数*

20 dB

可通过线缆直径

38 mm

尺寸

520 mm(长)×130 mm(宽)×120 mm(高)

工作温度

0~65

重量

7.5 kg